陜西恒溫恒濕實驗箱有很多種類型，高低溫老化試驗箱就是其中種，小型恒溫老化箱主要是給硅膠禮品、橡膠制品、硅膠飾品、數(shù)碼配件、電子產(chǎn)品、電器產(chǎn)品、光電產(chǎn)品等工業(yè)產(chǎn)品檢驗其各項性能指標(biāo)是否能適應(yīng)在高溫或者低溫或者高低溫（交變）循環(huán)變化下的使用、生產(chǎn)、檢測及儲存。本設(shè)備具備有單獨高溫老化的功能、也具備單獨低溫老化，還可高低溫交變老化、高低溫循環(huán)老化、高低溫恒定老化等功能。高低溫老化試驗箱有模擬大氣環(huán)境中高低溫溫度的變化規(guī)律。主要針對于工業(yè)成品或者半成品以及其元器件及其它材料在高溫、低溫綜合環(huán)境下的適應(yīng)性試驗。常用于工業(yè)產(chǎn)品鑒定，設(shè)計，改進(jìn)及檢驗等環(huán)節(jié)。
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：
符合GB5170、2、3、5、6-2008 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗設(shè)備》
GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗方法
GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗方法
GJB150.9-1986《軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法：濕熱試驗》
GJB4.5-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗恒定濕熱試驗》
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法GB 2423.1-2008 (IEC68-2-1)
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：高溫試驗方法GB 2423.2-2008 (IEC68-2-2)
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ca：恒定濕熱試驗方法GB/T 2423.3-2008（IEC68-2-3）
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Da：交變濕熱試驗方法GB/T423.4-2008(IEC68-2-30)
陜西恒溫恒濕實驗箱選型資料：
常規(guī)型號有: AP-HX-80D；AP-HX-100D；AP-HX-150D；AP-HX-225D；AP-HX-408D；AP-HX-800D；AP-HX-1000D
工作室內(nèi)箱尺寸寬*高*深（cm）: 40*50*40；50*50*40；50*60*50；50*75*60；60*85*80；100*100*800；100*100*100；
設(shè)備內(nèi)箱尺寸寬*高*深（cm）約: 98*135*98；105*147*105；108*150*108；107*160*119；120*173*128；156*183*130；157*186*150；
功率: 因為不同的尺寸配不同的溫度范圍功率會有所不同，請根據(jù)愛佩廠家提供的技術(shù)規(guī)格書上的為準(zhǔn)。
溫度可選擇范圍: A:0℃～150℃ B:-20℃～150℃ C:-40℃～150℃ D:-70℃～150℃（每個尺寸都可以配這些溫度范圍中的其中段）
均勻度/波動度: ±2℃/±0.5℃
升溫速率: 1.0～3.0℃/min
降溫速率: 0.7～1.0℃/min
控制器: 進(jìn)口LED數(shù)顯P.I.D + S.S.R.微電腦集成控制器(可編程)
精度范圍: 設(shè)定精度：溫度±0.1℃，指示精度：溫度±0.1℃，分辨率：0.01℃
溫度傳感器: 鉑金電阻 PT100Ω/MV