產(chǎn)品中心
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半導(dǎo)體冷熱沖擊高低溫試驗(yàn)儀適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動化零部件、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測試設(shè)備。
更新時(shí)間:2025-07-03
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半導(dǎo)體冷熱沖擊高低溫試驗(yàn)箱適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動化零部件、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測試設(shè)備。
更新時(shí)間:2025-07-03
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輪胎冷熱沖擊高低溫試驗(yàn)箱適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動化零部件、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測試設(shè)備。
更新時(shí)間:2025-07-03|
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芯片冷熱沖擊高低溫試驗(yàn)箱適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動化零部件、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測試設(shè)備。
更新時(shí)間:2025-07-03
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光伏產(chǎn)業(yè)用冷熱沖擊試驗(yàn)箱適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動化零部件、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測試設(shè)備。
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冷熱沖擊和高低溫循環(huán)適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動化零部件、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測試設(shè)備。
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-40℃冷熱沖擊試驗(yàn)箱適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動化零部件、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測試設(shè)備。
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上下移動溫度沖擊試驗(yàn)箱適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動化零部件、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測試設(shè)備。
更新時(shí)間:2025-07-03
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急冷急熱沖擊試驗(yàn)檢測箱適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動化零部件、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測試設(shè)備。
更新時(shí)間:2025-07-03|
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上下移動溫度沖擊試驗(yàn)箱適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動化零部件、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測試設(shè)備。
更新時(shí)間:2025-07-03
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小的沖擊試驗(yàn)箱主要用于測試工業(yè)材料對極熱溫或極冷溫的抵抗能力，這種情況類似于不連續(xù)地處于現(xiàn)實(shí)生活中的高溫或低溫中的環(huán)境，冷熱溫度沖擊能使各種工業(yè)產(chǎn)品在*短的時(shí)間內(nèi)完成試驗(yàn)。
更新時(shí)間:2025-07-03
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全自動冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動化零部件、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測試設(shè)備。
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可程控式冷熱沖擊試驗(yàn)箱適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動化零部件、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測試設(shè)備。
更新時(shí)間:2025-07-03|
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上下移動的溫度沖擊試驗(yàn)箱適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動化零部件、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測試設(shè)備。
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人工加速冷熱沖擊試驗(yàn)箱適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動化零部件、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測試設(shè)備。
更新時(shí)間:2025-07-03|
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高低溫冷熱沖擊實(shí)驗(yàn)機(jī)主要用于測試工業(yè)材料對極熱溫或極冷溫的抵抗能力，這種情況類似于不連續(xù)地處于現(xiàn)實(shí)生活中的高溫或低溫中的環(huán)境，冷熱溫度沖擊能使各種工業(yè)產(chǎn)品在*短的時(shí)間內(nèi)完成試驗(yàn)。
更新時(shí)間:2025-07-03
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兩箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱主要用于測試工業(yè)材料對極熱溫或極冷溫的抵抗能力，這種情況類似于不連續(xù)地處于現(xiàn)實(shí)生活中的高溫或低溫中的環(huán)境，冷熱溫度沖擊能使各種工業(yè)產(chǎn)品在*短的時(shí)間內(nèi)完成試驗(yàn)。
更新時(shí)間:2025-07-03
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可程控式冷熱沖擊試驗(yàn)箱主要用于對工業(yè)電工、電器、電子等成品或半成品做低溫時(shí)溫度瞬間變化的氣候條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)，如從零下10度沖擊到零下20度或者零下40度，更低的可以做到零下55度或者零下65度。
更新時(shí)間:2025-07-03|
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冷熱沖擊試驗(yàn)儀器常用于半導(dǎo)體行業(yè)及半導(dǎo)體產(chǎn)品、材料、配件做在瞬間下經(jīng)*高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,藉以在最短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化及物理傷害。
更新時(shí)間:2025-07-03|
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冷熱沖擊測試的設(shè)備主要用于對工業(yè)電工、電器、電子等成品或半成品做低溫時(shí)溫度瞬間變化的氣候條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)，如從零下10度沖擊到零下20度或者零下40度，更低的可以做到零下55度或者零下65度。
更新時(shí)間:2025-07-03